Растровый микроскоп РЭМ-106 характеристики

Средняя: 5 (1 оценка)
Арт: 
15307
Наличие: 
Под заказ
Срок доставки: 
от 3 до 10 дней
Производитель: 
Разрешение в режиме высокого вакуума (ВЭ), нм 4
Разрешение в режиме низкого вакуума (ОЭ), нм 6
Максимальный размер изображения, пикс 1280×960
Диапазон регулирования давления в камере, Па 1 - 270
Диапазон ускоряющих напряжений, кВ 0,5 - 30
Диапазон регулирования увеличений, х 15 - 300000
Максимальный размер объекта, мм 50
Диапазон перемещений объекта:
по координатам X, Y, мм ±25
по координате Z, мм 50
наклон,° -20 до 60
поворот, ° 360
Время смены образца, мин 5
Диапазон измерений линейных размеров, µm 0,2 - 5000
Пределы допускаемой основной погрешности измерений линейных размеров, не более:
в диапазоне от 0,2 µm до 0,8 µm, нм ±40
в диапазоне свыше 0,8 µm до 5000 µm, % ±4
Диапазон анализируемых элементов:
в режиме высокого вакуума 5B - 92U
в режиме низкого вакуума 12Mg - 92U
Разрешение ЭДС, eV 139
Пределы допускаемой относительной погрешности измерений массовой доли элемента в диапазоне от 6С до 92U
в составе массивных образцов, не более:
для элементов с диапазоном массовой доли свыше 10 %, % ±4
для элементов с диапазоном массовой доли свыше 1 % до 10 %, % ±20
для элементов с диапазоном массовой доли от 0,1 % до 1 %, % ±50
Напряжение питания (1 фаза), В 220
частота, ГЦ 50/60
Потребляемая мощность, кВА 2,5
Габаритные размеры (колонна со стендом), мм 1050х2100х1850
Масса, кг 685