Микроскоп-микроанализатор РЭММА-2000 характеристики

  • Микроскоп-микроанализатор РЭММА-2000 фото №1
Средняя: 5 (1 оценка)
Арт: 
15308
Наличие: 
Под заказ
Срок доставки: 
от 3 до 10 дней
Производитель: 
НПП «Академприбор»
zakaz.izpk@gmail.com
Приведенная интенсивность и контрастность аналитических линий на контрольном образце при проведении анализа кристалл-дифракционными спектрометрами
Образец Элемент Спектр. линия Пор. отр. Кристалл-анализ. Ускор. напр., кВ Прив. интенс. имп/с×мА Контрастность
C C Ka 1 PbSt 10 2.5 × 104 30
Al Al Ka 1 RAP 20 8 × 105 600
Ti Ti Ka 1 PET 30 2.8 × 106 600
Fe Fe Ka 1 LiF 30 8 × 105 300
SiO2 O Ka 1 MIR-030 10 5.5 × 104 30
BN N Ka 1 MIR-040 10 1.1 × 104 10
C C Ka 1 MIR-060 10 4.2 × 105 40
B13C2 B Ka 1 MIR-090 10 6.1 × 104 30
Be Be Ka 1 MIR-090 10 1.0 × 104 30
  • Разрешающая способность кристалл-дифракционного спектрометра на линии Cu Ka, не более 5,5 × 10-3
  • Разрешающая способность системы энергодисперсионного рентгеновского микроанализа на линии Mn Ka, эВ, не более 143
  • Диапазон анализируемых элементов спектрометром энергетической дисперсии от бора(5) до урана(92)
  • Давление в колонне микроскопа, мПа, не более 1,33
  • Время откачки микроскопа от атмосферного давления до давления 6,7мПа, мин., не более 30
  • Время шлюзования объекта, мин, не более 5

Функциональные возможности и режимы работы ВКУ:

  • развертка электронного зонда по большому и малому полям, с возможностью установки зонда в отмеченную маркером на изображении точку;
  • вращение и электронное перемещение растра;
  • деление экрана;
  • отображение символьной информации об ускоряющем напряжении, увеличении, масштабной метке и ее длине, рабочем отрезке;
  • электронная индикация линейных размеров объектов;
  • обработка изображения дифференцированием, γ-коррекцией.
  • Сохранение увеличения изображения: при изменении ускоряющего напряжения от 5 до 30 кВ; при изменении рабочего расстояния от 8 до 50 мм.

Универсальный механизм перемещения объектов обеспечивает:

  • установку образца максимальным диаметром не менее 100 мм;
  • перемещение образца по координатам X, Y на ± 50мм с шагом не более 0,5 мкм;
  • перемещение по координате Z на 40 мм с шагом не более 2 мкм;
  • вращение образца на 360o;
  • наклон платформы от минус 20o до 48o;
  • точность позиционирования по координатам X, Y ± 1 мкм.
  • Требования к электропитанию: трехфазное напряжение (200 ± 22) В; частота питающей сети (50 ± 1) Гц;
  • Потребляемая мощность, кВА, не более 3,5
  • Габаритные размеры, мм, не более: каркас с колонной и вакуумной системой 970×770×1735; устройство видеоконтрольное 800×1400×780; блок питания 500×560×750; система откачки (форнасос) 555×170×290
  • Общая масса микроскопа, кг, не более 1300

Параметры систем для эксплуатации микроскопа:

  • индивидуальный контур заземления с сопротивлением, Ом, не более 4;
  • расход воды, л/мин, 3,5; давление воды в сети, кг/см2, 3-5
  • температура воды, oС 20 ± 5
  • число штуцеров для подвода воды 2
  • число штуцеров для слива воды 2
  • число штуцеров для выхлопа воздуха с форнасосов 2

    Требования к помещению для установки микроскопа:

  • площадь помещения, м2, не менее 20
  • температура воздуха в помещении, °С, 20 ± 5
  • относительная влажность, %, 50 - 80
  • уровень электромагнитного поля в диапазоне частот 50-400 Гц на расстоянии 5 см от колонны, мкТ, не более 0,3
  • уровень вибраций пола в диапазоне частот 5-20 Гц, мкм, не более 5
  • ширина входной двери, мм, не менее 1200